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著者名Naoki Ohashi, Hideki Yoshikawa, Yoshiyuki Yamashita, Shigenori Ueda, Jianyong Li, Hideyo Okushi, Keisuke Kobayashi, Hajime Haneda.
タイトルDetermination of Schottky barrier profile at Pt/SrTiO3:Nb junction by x-ray photoemission
掲載誌名Applied Physics Letters 101 [25] 251911
ISSN: 00036951 10773118
発表年2012
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.4772628
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