A system for measuring the adhesion forces of micro-objects in a scanning electron microscope | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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A system for measuring the adhesion forces of micro-objects in a scanning electron microscope
(走査電子顕微鏡下での微小物体の付着力測定システム)

Hideki T. Miyazaki, 新谷紀雄, Yasushi Tomizawa, Koichi Koyama, Tomomasa Sato, Yasushi Tomizawa, Koichi Koyano, Tomomasa Sato, Norio Shinya.

Review of Scientific Instruments 71 [8] 3123-3131. 2000.

https://doi.org/10.1063/1.1305812

NIMS著者

宮崎英樹

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:41:01 +0900更新時刻: 2024-11-09 04:53:24 +0900

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