A system for measuring the adhesion forces of micro-objects in a scanning electron microscope
(走査電子顕微鏡下での微小物体の付着力測定システム)
著者 | Hideki T. Miyazaki, 新谷紀雄, Yasushi Tomizawa, Koichi Koyama, Tomomasa Sato, Yasushi Tomizawa, Koichi Koyano, Tomomasa Sato, Norio Shinya. |
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掲載誌名 | Review of Scientific Instruments 71 [8] 3123-3131 ISSN: 00346748, 10897623 ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY |
出版社 | |
発表年 | 2000 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1063/1.1305812 |
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