A system for measuring the adhesion forces of micro-objects in a scanning electron microscope
(走査電子顕微鏡下での微小物体の付着力測定システム)

著者	Hideki T. Miyazaki, 新谷紀雄, Yasushi Tomizawa, Koichi Koyama, Tomomasa Sato, Yasushi Tomizawa, Koichi Koyano, Tomomasa Sato, Norio Shinya.
掲載誌名	Review of Scientific Instruments 71 [8] 3123-3131 ISSN: 00346748, 10897623 ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY
出版社
発表年	2000
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.1305812
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