HOME > 論文 > 書誌詳細Glancing Incident XPS Mesumerment of Multilayers using Synchrotron Radiation(放射光を使った斜入射XPSでの多層膜の解析)YOSHIKAWA, Hideki, KIMURA, Masahiro, Vlaicu Aurel Mihai, 田中彰博, 藤方潤一, 大橋啓之, FUKUSHIMA, Sei. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 1 303-308. 2003.NIMS著者吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:51:40 +0900 更新時刻: 2018-12-15 01:27:18 +0900
