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著者名Bin Chen, Hirofumi Matsuhata, Takashi Sekiguchi, Kyouichi Ichinoseki, Hajime Okumura.
タイトルSurface defects and accompanying imperfections in 4H–SiC: Optical, structural and electrical characterization
掲載誌名Acta Materialia 60 1 51 58
ISSN: 13596454
発表年2012
言語English
DOI10.1016/j.actamat.2011.09.010
ESIでのカテゴリMATERIALS SCIENCE
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