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著者名Takuto Kojima, Tomihisa Tachibana, Yoshio Ohshita, Ronit R. Prakash, Takashi Sekiguchi, Masafumi Yamaguchi.
タイトルTemperature-dependent recombination velocity analysis on artificial small angle grain boundaries using electron beam induced current method
掲載誌名Journal of Applied Physics 119 6 065302
ISSN: 00218979 10897550
発表年2016
言語English
DOI10.1063/1.4940709
ESIでのカテゴリPHYSICS
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