HOME > 論文 > 書誌詳細Informatics-Aided Raman Microscopy for Nanometric 3D Stress CharacterizationHongxin Wang, Han Zhang, Bo Da, Motoki Shiga, Hideaki Kitazawa, Daisuke Fujita. The Journal of Physical Chemistry C 122 [13] 7187-7193. 2018.https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.7b12415 NIMS著者張 晗達 博北澤 英明藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-04-11 21:02:59 +0900更新時刻: 2024-04-02 00:18:47 +0900
