アクティブ・ナノ計測技術 －走査トンネル顕微鏡を中心として－
(Active nano-characterization and technology by scanning tunneling microscopy)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:47:52 +0900 更新時刻: 2018-05-30 17:47:46 +0900