HOME > 論文 > 書誌詳細Global Standardization of Scanning Probe MicroscopyDaisuke Fujita, Hiroshi Itoh, Shingo Ichimura, Tomizo Kurosawa. Nanotechnology 18 [8] 084002. 2007.https://doi.org/10.1088/0957-4484/18/8/084002 NIMS著者藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:10:07 +0900更新時刻: 2024-04-01 18:21:36 +0900