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著者名山下 良之.
タイトルナノ電子デバイスの動作下における電子状態の直接観測法の開発
掲載誌名ポストシリコン半導体-ナノ成膜ダイナミクスと基盤・界面効果ー 434-442
発表年2013
言語Japanese
ESIでのカテゴリ

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