HOME > 論文 > 書誌詳細ナノ電子デバイスの動作下における電子状態の直接観測法の開発山下 良之. ポストシリコン半導体-ナノ成膜ダイナミクスと基盤・界面効果ー 434-442. 2013.NIMS著者山下 良之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 17:04:23 +0900更新時刻: 2018-06-15 22:11:51 +0900
