HOME > 論文 > 書誌詳細SIMS DEPTH PROFILING OF N AND In IN ZnO SINGLE CRYSTAL(酸化亜鉛単結晶中の窒素のインジウムのSIMSの深さ方向プロファイル)朴大出, SAKAGUCHI, Isao, 大橋直樹, 菱田俊一, HANEDA, Hajime. APPLIED SURFACE SCIENCE 359-362. 2003.NIMS著者坂口 勲羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:40:22 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:40:22 +0900
