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Excited Conductivity and Defect Formation in Photo Conductivity-type Si Sensor Under Particle Irradiation
(粒子線照射下における光伝導型Siセンサーの励起電気伝導と欠陥生成)

AMEKURA, Hiroshi, 岸本直樹, KONO, Kenichiro, 斎藤鉄哉.
Transactions MRSJ(Transactions of the Materials Research Society of Japan) 347-350. 1996.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2022-11-15 00:39:08 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:08 +0900

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