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Electron-beam-induced current study of grain boundaries in multicrystalline silicon

J. Chen, T. Sekiguchi, D. Yang, F. Yin, K. Kido, S. Tsurekawa.
Journal of Applied Physics 96 [10] 5490-5495. 2004.

NIMS著者


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    作成時刻 :2016-05-24 14:35:59 +0900 更新時刻 :2020-11-16 23:08:23 +0900

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