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著者名J. Chen, T. Sekiguchi, D. Yang, F. Yin, K. Kido, S. Tsurekawa.
タイトルElectron-beam-induced current study of grain boundaries in multicrystalline silicon
掲載誌名Journal of Applied Physics 96 10 5490 5495
ISSN: 00218979 10897550
発表年2004
言語English
DOI10.1063/1.1797548
ESIでのカテゴリPHYSICS
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