Hard x-ray photoelectron spectroscopy study of Ge<sub>2</sub>Sb<sub>2</sub>Te<sub>5</sub>; as-deposited amorphous, crystalline, and laser-reamorphized | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

HOME > 論文 > 書誌詳細

Hard x-ray photoelectron spectroscopy study of Ge2Sb2Te5; as-deposited amorphous, crystalline, and laser-reamorphized
(Ge2Sb2Te5の成膜後，非晶質，結晶質，レーザー再結晶化の結晶形態における硬X線光電子分光研究)

Jan H. Richter, Paul Fons, Alex V. Kolobov, Shigenori Ueda, Hideki Yoshikawa, Yoshiyuki Yamashita, Satoshi Ishimaru, Keisuke Kobayashi, Junji Tominaga.

Applied Physics Letters 104 [6] 061909. 2014.

https://doi.org/10.1063/1.4865328

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 17:20:43 +0900更新時刻: 2024-03-31 13:40:42 +0900

▲ページトップへ移動