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著者名Yoshiyuki Yamashita, Susumu Yamamoto, Kozo Mukai, Jun Yoshinobu, Yoshihisa Harada, Takashi Tokushima, Shik Shin.
タイトルDirect Observation of Valence and Conduction States near the SiO2/Si(100) Interface
掲載誌名e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 6 209-212
ISSN: 13480391
発表年2008
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1380/ejssnt.2008.209
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