Extraction of Depth Distributions of Electron-excited Auger Electrons in Fe,Ni and Si Using Inelastic Peak-shape Analysis | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Extraction of Depth Distributions of Electron-excited Auger Electrons in Fe,Ni and Si Using Inelastic Peak-shape Analysis
(非弾性散乱電子ピーク形状解析によるFe,Ni,Siでの電子線励起オージェ電子の深さ方向分布の抽出)

D. Fujita, M.Schleberger, S.Tougaard, M. Schleberger, S. Tougaard.

Surface Science 357-358 180-185. 1996.

https://doi.org/10.1016/0039-6028(96)00085-4

NIMS著者

藤田大介

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:36:20 +0900更新時刻: 2024-09-07 05:27:39 +0900

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