原子間力顕微鏡を使った超精密測定：単原子から高分子まで
(High-resolution force measurement with atomic force microscopy)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-10-12 21:13:46 +0900更新時刻: 2018-06-15 22:00:12 +0900