極低バイアス走査トンネル顕微鏡による低次元表面観察
(Characterization of Low Dimensional Surface with Ultra-low Bias Scanning Tunneling Microscopy)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:52:08 +0900更新時刻: 2018-05-30 17:53:01 +0900