HOME > 論文 > 書誌詳細走査マルチプローブ顕微鏡を使ったナノワイヤーの電気輸送特性計測(Electrical Transport Properties of Nanowires Measured by Multiple-Scanning-Probe Microscope)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 青野 正和, 中山 知信. 真空 51 [7] 433-438. 2008.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:19:50 +0900更新時刻: 2018-12-14 23:52:05 +0900