HOME > Article > Detail走査マルチプローブ顕微鏡を使ったナノワイヤーの電気輸送特性計測(Electrical Transport Properties of Nanowires Measured by Multiple-Scanning-Probe Microscope)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 青野 正和, 中山 知信. 真空 51 [7] 433-438. 2008.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaAONO, MasakazuNAKAYAMA, TomonobuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2016-05-24 15:19:50 +0900Updated at: 2018-12-14 23:52:05 +0900