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走査マルチプローブ顕微鏡を使ったナノワイヤーの電気輸送特性計測
(Electrical Transport Properties of Nanowires Measured by Multiple-Scanning-Probe Microscope)

著者久保 理, 新ヶ谷 義隆, 青野 正和, 中山 知信.
掲載誌名真空 51 [7] 433-438
出版社
発表年2008
言語Japanese

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