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走査マルチプローブ顕微鏡を使ったナノワイヤーの電気輸送特性計測
(Electrical Transport Properties of Nanowires Measured by Multiple-Scanning-Probe Microscope)

真空 51 [7] 433-438. 2008.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 15:19:50 +0900更新時刻: 2018-12-14 23:52:05 +0900

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