SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Atomic-scale characterization of highly doped Si impurities in GaAs using scanning tunneling microscopy

Applied Surface Science 583 152373. 2022.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2022-01-26 10:06:43 +0900更新時刻: 2024-06-04 09:37:49 +0900

    ▲ページトップへ移動