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2026
- Shohei Yamashita, KONDO, Fumiya, Yasuo Takeichi, Daisuke Wakabayashi, Masao Kimura. Development of a soft X-ray microscopy-based surface analysis method and its application to insulating materials. The 19th International Conference on X-ray Absorption Fine Structure (XAFS 2026). 2026
- 山下 翔平, 長坂 将成, 近藤 史弥. 軟X線顕微分光ビームライン PF BL-19A/Bの高度化～多様な材料分析への試み～. 2025年度量子ビームサイエンスフェスタ. 2026