HOME > 会議録 > 書誌詳細Characterization of zinc oxide single crystal for epitaxial wafer applications(酸化亜鉛ウエファーのエピタキシャル基板としての評価)OHASHI, Naoki, OGAKI, Takeshi, SUGIMURA, Shigeaki, MAEDA, Katsumi, SAKAGUCHI, Isao, RYOKEN, Haruki, 新倉郁生, 佐藤充, HANEDA, Hajime. Proceeding of Materials Reserch Society . 2004.NIMS著者大橋 直樹大垣 武坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-27 00:25:36 +0900 更新時刻: 2017-03-17 02:28:02 +0900
