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水素イオン照射したCeO2の分析電子顕微鏡法による解析
(ANALYTICAL MICROSCOPY OF CeO2 IRRADIATED WITH HYDROGEN IONS)

長谷川 明, 王衛国, チュー フーミン, 楊暁雲, 三石 和貴, 古屋 一夫.
Proceedings of 15th international congress on electron microscopy 1043-1044. 2002.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2017-02-27 00:09:13 +0900 更新時刻: 2017-03-17 02:13:17 +0900

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