衝撃圧縮によるBi系酸化物超伝導体の作製およびX線回折による評価
(Grain structures evaluation by X-ray diffraction of shocked oxide Bi-superconductors)
| 著者 | 中村峰大, 富岡成矢, 中村悟士, 亀谷崇樹, 毛塚博史, 真下 茂, liliang chen, 有沢 俊一. |
|---|---|
| 発表誌名 | 電気学会研究会資料 |
| 発表年 | 2013 |
| 言語 | Japanese |