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衝撃圧縮によるBi系酸化物超伝導体の作製およびX線回折による評価
(Grain structures evaluation by X-ray diffraction of shocked oxide Bi-superconductors)

著者中村峰大, 富岡成矢, 中村悟士, 亀谷崇樹, 毛塚博史, 真下 茂, liliang chen, 有沢 俊一.
発表誌名電気学会研究会資料
発表年2013
言語Japanese

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