衝撃圧縮によるBi系酸化物超伝導体の作製およびX線回折による評価
(Grain structures evaluation by X-ray diffraction of shocked oxide Bi-superconductors)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-27 02:26:45 +0900更新時刻: 2017-03-17 04:37:59 +0900