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著者名Yoshiyuki Yamashita, Hideki Yoshikawa, Toyohiro Chikyo, Keisuke Kobayashi.
タイトル(Invited) Direct Observation of Electronic States in Gate Stack Structures: XPS under Device Operation
発表誌名
発表年2011
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1149/1.3633313

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