HOME > 会議録 > 書誌詳細Evaluation of irradiation-induced deep levels in Si(Si中の照射損傷による深い準位の評価)KONO, Kenichiro, Sandland J G, 和田一美, Kimerling L C, Sandland J G, 和田一美, Kimerling L C. Proceedings of SPIE 267-273. .NIMS著者河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-26 23:52:06 +0900 更新時刻 :2017-03-17 01:57:54 +0900