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Evaluation of irradiation-induced deep levels in Si
(Si中の照射損傷による深い準位の評価)

KONO, Kenichiro, Sandland J G, 和田一美, Kimerling L C, Sandland J G, 和田一美, Kimerling L C.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-26 23:52:06 +0900 更新時刻 :2017-03-17 01:57:54 +0900

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