HOME > 会議録 > 書誌詳細Modified Diffusion Bond Process for Chemical Mechanical Polishing (CMP)-Cu at 150。・ in Ambient Air(CMP-Cu薄膜のための150℃以下の低温・大気圧雰囲気中における拡散接合法)SHIGETOU, Akitsu, Tadatomo Suga. Electronic Components and Technology Conference, 2009. ECTC 365-369. 2009.NIMS著者重藤 暁津Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-27 01:39:31 +0900更新時刻: 2017-03-17 03:42:29 +0900