絶縁体のイオン誘起フォトン分光及びナノ粒子生成過程のその場診断への応用
(Ion-induced Photon Spectroscopy of Insulators and Application to In-situ Diagnostics of Nanoparticle Formation Processes)
15th Int. Conf. on Ion Beam Analysis, 第15回イオンビーム解析国際. 2001年07月15日-2001年07月20日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 02:19:34 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:16:19 +0900