Quantitative characterization of built-in potential profile across GaAs p–n junctions using Kelvin probe force microscopy
NIMS Award Symposium 2024. 2024年11月06日-2024年11月07日.
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作成時刻: 2024-12-05 03:17:41 +0900 更新時刻: 2024-12-05 03:17:41 +0900