HOME > Presentation > DetailMonitoring of the interfacial defects on Al-catalyzed SiNW structures and H2-annealed treatmentジェバスワン ウイパコーン, スブラマニ ティヤグ, チェン ジュンイ, プラデル チャールズ ケン, 武井 俊朗, 深田 直樹. ICDS 2017. 2017.NIMS author(s)JEVASUWAN, WipakornSUBRAMANI, ThiyaguFUKATA, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-04-18 22:56:01 +0900Updated at: 2018-06-05 14:08:04 +0900