Grazing Incidence X-ray Reflectance Measurement of Surface and Interface Roughness on the Sub-Nanometer Scale.
(斜入射X線反射率法によるサブナノメータスケールの表面および界面ラフネスの測定.)
MRS Fall Meeting. 1993年11月29日-1993年12月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:44:29 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:26:35 +0900