In-situ Electron Microscopy of Secondary Defects in Ni Induced by H+ and Ar+ Irradiation in TEM
(水素イオン及びアルゴンイオン照射によってニッケル中に導入された二次欠陥の電顕内その場観察)
第１３回国際電子顕微鏡学会. 1994年07月17日-1994年07月22日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 00:51:10 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:29:27 +0900