照射損傷のCCDに与える影響
(Effect of irradiation-induced deep levels on CCD)
Point and Line Defects in Semiconductors. 2000年07月09日-2000年07月14日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 04:40:49 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:13:44 +0900