HOME > 口頭発表 > 書誌詳細AFM based NANO indentation tester and Evaluation of vickers hardness in NANO indentation(AFMに基づくナノ押し込み試験機とビッカース硬さ評価)宮原健介, 長島伸夫, OHMURA, Takahito, 松岡三郎, 宮原健介, 長島伸夫, 松岡三郎. 6th Japan Intemational SAMPE Symposium & Exhibition. 1999年10月26日-1999年10月29日.NIMS著者大村 孝仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:46:48 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:58:23 +0900