多探針走査トンネル顕微法によるナノ構造材料の電気特性計測
(Electrical characterization of nanosutructulred materials by multiprobe scanning tunneling microscopy)
Japan-Italy Joint symposium. 2002年11月25日-2002年11月27日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:04:41 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:37 +0900