C60イオン照射したSi での閾値以下でのイオントラック形成
(Ion Track Formation in Silicon by C60 Ion Irradiation with Subthreshold Energy Deposition)
NIMS先端計測シンポジウム2022
https://www.nims.go.jp/research/materials-analysis/events/amcp_sympo2022.html. 2022-03-11.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-04-12 03:25:17 +0900 更新時刻: 2022-04-12 03:25:17 +0900