HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Bi-2212/Agテープにおける結晶粒界構造と臨界電流密度(Grain boundary structure and critical current density in Bi-2212/Ag tapes)熊倉 浩明, 藤井 宏樹, 北口 仁, 戸叶一正, 戸叶一正. 第127回TMS年会. 1998-02-15.NIMS著者藤井 宏樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:24:12 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:46:27 +0900