HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線誘起蒸着と低エネルギーイオンによる電子顕微鏡試料作成(TEM sample preparation using EBID combined with ion beam)三石 和貴, 下条 雅幸, 竹口 雅樹, 田中 美代子, 古屋 一夫. 日本顕微鏡学会第61回学術講演会. 2005.NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹田中 美代子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:20:34 +0900