HOME > 口頭発表 > 書誌詳細フェムト秒レーザ照射中に起こるSiO2の構造変化のその場分光測定(In situ spectroscopic measurement of structural change in SiO2 during femtosecond laser irradiation)深田 直樹, 山本良明, 村上浩一, 長谷 宗明, 北島 正弘. The 7th International Conference on Laser Ablation. 2003年10月05日-2003年10月10日. 招待講演NIMS著者深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 03:24:11 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:50 +0900