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放射光ナノ顕微分光によるエネルギーデバイス界面のオペランド測定
(Operando analysis of interfaces in energy devices using a high spatial resolution scanning photoelectron microscopy with synchrotron radiation soft X-rays)

永村 直佳, 堀場 弘司, 尾嶋 正治.
第77回応用物理学会秋季学術講演会. 2016. 招待講演

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    作成時刻 :2017-01-08 03:37:49 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:46:28 +0900

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