HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光ナノ顕微分光によるエネルギーデバイス界面のオペランド測定(Operando analysis of interfaces in energy devices using a high spatial resolution scanning photoelectron microscopy with synchrotron radiation soft X-rays)永村 直佳, 堀場 弘司, 尾嶋 正治. 第77回応用物理学会秋季学術講演会. 2016. 招待講演NIMS著者永村 直佳Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 03:37:49 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:46:28 +0900