HOME > Presentation > DetailDouble cap法によるInAs/InP量子ドット界面構造の断面STM観察赤沼泰彦, 山川市朗, 佐久間 芳樹, 臼杵達哉, 中村新男. 日本物理学会第61回年次大会. 2006.NIMS author(s)SAKUMA, YoshikiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:31:07 +0900Updated at: 2017-07-10 19:33:00 +0900