HOME > 口頭発表 > 書誌詳細HVTEMを用いたイオン照射励起X線の測定(measurement of X-ray from solid materials induced by ion irradiation with HVTEM)長谷川 明, 劉俊亮, 三石 和貴, 古屋 一夫. 日本顕微鏡学会第59回学術講演会. 2003年06月07日-2003年06月09日.NIMS著者三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:30:58 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:43:35 +0900