HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Nanoscale Signal Transfer Measured by Multiple-Scanning-Probe Microscope久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. NSF-MEXT US/JAPAN YOUNG SCIENTISTS SYMPOSIUM ON NANOSCALE DEVICE. 2008.NIMS著者新ヶ谷 義隆中山 知信青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:47:20 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:10:07 +0900