HOME > 口頭発表 > 書誌詳細NRIMにおける、2重イオン注入装置を備えた、超高圧分析・高分解能電子顕微鏡によるその場観察の現状 (Ion beam interfaced in-situ, analytical, high-voltage and high-resolution transmission electron microscope at NRIM)三石和貴, 宋明暉, 竹口雅樹, 古屋一夫, 三石和貴, 宋明暉, 竹口雅樹, 古屋一夫. 日仏科学協力事業セミナー「電子顕微鏡内その場観察実験の材料科学へ. 2000年03月08日-2000年03月10日. 招待講演NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:19:46 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:09 +0900