HOME > Presentation > Detail走査型多探針原子間力顕微鏡用プローブの開発(Development of the tuning fork probe for multiple-scanning-probe force microscope)樋口 誠司, 倉持 宏実, 桝田真太郎, 久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信. 第70回応用物理学会学術講演会. September 08, 2009-September 11, 2009.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:38:35 +0900 Updated at: 2017-07-10 20:32:26 +0900