放射光軟X線顕微分光で探るグラフェンの異種接合界面電子状態
(Interface Physics in Graphene ~Spectromicroscopy Approach~)
第7回表面科学若手研究会. 2016-12-02. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:32:52 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:46:31 +0900