HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Defect structures in zinc oxide thin films -Aspect of non-equilibrium defects)羽田 肇, 大橋 直樹, 坂口 勲, 両見 春樹. Asian meeting on electroceramics 4. 2005年06月27日-2005年06月30日.NIMS著者羽田 肇大橋 直樹坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:51:01 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:19:33 +0900