HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Dual-Hexapole Type Cs Corrector on Ultra-High Vacuum Scanning Transmission Electron Microscope)三石 和貴, 竹口 雅樹, 近藤行人, 細川史生, 岡本 公治, 三宮 工, 堀 まどか, 岩間 武, 川添 峰雪, 古屋 一夫. International Microscopy Congress 16. 2006.NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:14:23 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:43:52 +0900