HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Non-destructive characterization of local Ic distribution and microstructure in a IMD-processed MgB2 round wire by use of hybrid microscopy: scanning Hall-probe microscopy and X-ray tomographyHiroshi Takahara, 東川甲平, 井上昌睦, Shyam Mohan, 松本 明善, 熊倉 浩明, 木須隆暢. 2016 Applied Superconductivity Conference. 2016年09月04日-2016年09月09日.NIMS著者松本 明善Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:20:49 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:22:30 +0900